全自动探针台:AP3200
探针台(prober)是晶圆针测的关键设备,而晶圆针测则是集成电路制造中的关键环节。12寸全自动探针台与测试机联机可完成晶圆电性能测试,整机搭配智彗工厂控制系统可实现无人工厂的测试需求。
产品构成:
晶圆自动传输系统(loader)和晶圆自动校准测试系统(stage)两大部分。
模块介绍
精密运动平台
1. 采用直线电机全闭环控制,自主化的精度补偿算法,实现XY定位精度±1μm。
2. ACE模态分析设计,实现高精度条件下快速启停,index time达到220ms。
3. 独特的减震设计,双轴整定时间<40ms(整定到1μm)。
视觉系统
1. 高低倍视觉系统,满足对晶圆和针尖的识别,针尖识别精度≤0.5μm
2. 亚微米级显微镜系统,分辨率0.2μm。
3. 自动快速对焦及相机互标,聚焦时间<2s。
4. 支持PMI及PCI功能。
Chuck系统
1. 兼容8寸和12寸晶圆。
2. 高刚性升降系统,吸盘平面度<10μm。
3. 支持高温测试和低温改造,温度可到300℃,温度精度±1℃。
4. 高精度,高惯量T轴,R精度小于0.00001。
5. 可配置密孔吸附,支持碎片吸附。
测试接口
1. 可定制针卡固定方式。
2. 配置APC系统。
3. 支持悬臂式探针卡和垂直式探针卡。
4. 支持Direct docking和Pogo Tower。
Loadport
1. 兼容12寸和8寸cassette。
2. 支持FOUP、FOSB等cassette类型。
3. 快速晶圆扫描,可检测叠层、错层、残片等,厚度测量精度±30μm。
机械手
1. 双臂晶圆取放机械手,换片时间<30s。
2. 晶圆安全软硬件多重保护功能。
3. 采用高品质零部件及健壮软件系统保证机械手的高可靠性和高稳定性。
Pre-Alignment
1. 高清晰视觉系统和自主化的缺口识别和偏心距计算。
2. 偏心距测量精度小于0.1mm。
3. 角度识别精度小于0.1°。
Wafer ID识别
1. 根据不同ID特征,可采用不同光源组合,实现高品质图像采集。
2. 自主开发的多张图像组合算法和ID识别算法。
3. ID识别成功率>99.9%。
4. 支持多种识别结果check。
项目 | 指标 | 备注 |
晶圆规格 | 晶圆尺寸:8寸,12寸 晶圆厚度:250~10000um DIE尺寸:200um~100000um PAD尺寸:≥35um 重量:<0.5kg |
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料盒规格 | 8″:标准料盒 12″:FOUP、FOSB |
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针卡规格 | 悬臂式探针卡, 垂直式探针卡 | |
晶圆加载方式 | 1个料盒平台+1个抽屉托盘+2固定托盘 | |
与测试机连接方式 | Hinge, Service Hinge,Cable | |
校准方式 | 晶圆自动校准 | |
对针方式 | 自动对针 | |
与测试机通讯方式 | GPIB, RS232,TTL(可选) | |
针痕检测 | 自动针痕检测,支持多种PAD形状 | |
MAP格式 | TEXT、TSK MAP | |
温度模式 | 常温,高温,支持低温改造功能 | |
人机接口 | 19 ″彩色触摸屏 | |
外形尺寸 | 1500W*1800D*1500H | |
RFID | 芯片读取 | 选配 |
警示灯 | 红黄绿三层LED灯塔+蜂鸣器 | |
料盒保护 | 可视防静电保护罩 | 选配 |
自动换卡 | 具备自动换卡功能 |
序号 | 项目 | 参数 |
1 | 针测精度 | XY:±1um Z:±2um |
2 | Index time | 220ms |
3 | 晶圆校准时间 | <30s |
4 | 首片加载时间 | <50s |
5 | X,Y轴速度 | 500mm/s |
6 | Z轴速度 | 50mm/s |
8 | T轴行程 | ±5° |
9 | MTBA | 100h |
10 | 顶升力 | 200kg |
11 | CHUCK偏载变形 | <10μm/10kg (R150mm) |
12 | CHUCK平面度 | <15μm全温度范围 |
13 | 制热温度范围 | 25℃~200℃±1℃ |
14 | 加热速率 | 20℃到150℃<20min; |
16 | 吸盘温度均匀性 | ±1.0℃ |
17 | 预对位偏心测量精度 | <0.2mm |
18 | 预对位缺口角度测量精度 | <0.3° |
19 | ID识别类型 | Semi standard |
20 | ID读取成功率 | 99.9% |
21 | 测试工位 | Max.128 Site |
22 | 测试分BIN | Max.512 |